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EMI試驗EMI(Electro Magnetic Interference)電磁干擾
2014-12-05 來源: 作者:正航儀器 閱讀:次
EMI試驗EMI(Electro Magnetic Interference)電磁干擾
試驗目的: 驗證電磁波與電子元件作用后而產(chǎn)生的干擾現(xiàn)象,有傳導干擾和輻射干擾兩種。傳導干擾是指通過導電介質(zhì)把一個電網(wǎng)絡上的信號耦合(干擾)到另一個電網(wǎng)絡。輻射干擾是指干擾源通過空間把其信號耦合(干擾)到另一個電網(wǎng)絡,在高速PCB及系統(tǒng)設(shè)計中,高頻信號線、集成電路的引腳、各類接插件等都可能成為具有天線特性的輻射干擾源,能發(fā)射電磁波并影響其他系統(tǒng)或本系統(tǒng)內(nèi)其他子系統(tǒng)的正常工作。
試驗設(shè)備: 電磁干擾發(fā)生器
試驗樣品: 3PCS
試驗內(nèi)容:①.連續(xù)干擾電壓(150kHz~30MHz);
②. 斷續(xù)干擾電壓(喀嚦聲)(150kHz、500kHz、1.4 MHz和30MHz);
③. 干擾功率(30MHz~300MHz)
④.諧波電流(2~40次諧波)
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