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EMI試驗EMI(Electro Magnetic Interference)電磁干擾
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EMI試驗EMI(Electro Magnetic Interference)電磁干擾
2014-12-05    來源:    作者:正航儀器  閱讀:次

EMI試驗EMIElectro Magnetic Interference)電磁干擾

試驗目的: 驗證電磁波與電子元件作用后而產(chǎn)生的干擾現(xiàn)象,有傳導干擾和輻射干擾兩種。傳導干擾是指通過導電介質(zhì)把一個電網(wǎng)絡上的信號耦合(干擾)到另一個電網(wǎng)絡。輻射干擾是指干擾源通過空間把其信號耦合(干擾)到另一個電網(wǎng)絡,在高速PCB及系統(tǒng)設(shè)計中,高頻信號線、集成電路的引腳、各類接插件等都可能成為具有天線特性的輻射干擾源,能發(fā)射電磁波并影響其他系統(tǒng)或本系統(tǒng)內(nèi)其他子系統(tǒng)的正常工作。

 可靠性試驗機-高低溫試驗機

試驗設(shè)備: 電磁干擾發(fā)生器

試驗樣品: 3PCS

 

試驗內(nèi)容:①.連續(xù)干擾電壓(150kHz30MHz;

         ②斷續(xù)干擾電壓(喀嚦聲)(150kHz、500kHz、1.4 MHz30MHz;

         ③干擾功率(30MHz300MHz

         ④.諧波電流(240次諧波)

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