元器件封裝的可靠性,直接影響到元器件的性能。伴隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展,產(chǎn)品的體積隨著需求不斷向小型化方向發(fā)展,芯片的集成度的也不斷提高,元器件的封裝尺寸也跟著變的越來越小,元器件的使用條件變的越來越苛刻,封裝的可靠性變得尤為重要。本文的研究工作借助計(jì)算機(jī)軟件,對(duì)元器件產(chǎn)品數(shù)據(jù)進(jìn)行匯總,統(tǒng)計(jì)失效數(shù)據(jù),并繪制圖表對(duì)失效的比例和趨勢進(jìn)行分析。以塑料封裝為重點(diǎn),研究以下問題:
1.通過冷熱沖擊試驗(yàn)、恒溫恒濕試驗(yàn)、壓力鍋試驗(yàn)等可靠性試驗(yàn),分析塑封可靠性問題。
2.塑料封裝可靠性失效時(shí)的主要現(xiàn)象,主要以SOT-23、TO-126、TO-252封裝形式為主進(jìn)行介紹。
3.封裝的主要缺陷及對(duì)應(yīng)的解決措施總結(jié)。本論文對(duì)封裝方面的主要問題進(jìn)行分類,通過有針對(duì)性的可靠性試驗(yàn),通過使用計(jì)算機(jī)軟件統(tǒng)計(jì)分析并提出解決方法,對(duì)提升塑封產(chǎn)品生產(chǎn)的良率及可靠性,具有重要意義。(正航儀器撰稿)http://petgroup.cn