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正航技術(shù)整理過載繼電器可靠性試驗方法
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正航技術(shù)整理過載繼電器可靠性試驗方法
2015-06-26    來源:    作者:佚名  閱讀:次
正航技術(shù)整理過載繼電器可靠性試驗方法
1 范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了過載繼電器進(jìn)行可靠性驗證試驗的一般要求,包括過我繼電器可靠性指標(biāo)、可靠性等級、可靠性試驗條件、可靠性試驗方案和可靠性試驗程序等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于符合GB 14048 .4GB 14048.6 規(guī)定的產(chǎn)品,可作為制造廠制訂過載繼電器可靠性指標(biāo)及試驗方法的指導(dǎo)性文件。
規(guī)范性引用文件
下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的〈不包括勘誤的內(nèi)容〉或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
GB/T2900.18 1992 電工術(shù)語低壓電器(eqvIEC60050-44 1: 1984)
GB/T3187 1994 可靠性、維慘性術(shù)語(idtIEC 60050-191: 1991)
GB/T5080.1 設(shè)備可靠性試驗總要求(GB/T5080.11986 , idt IEC 60605-1: 1978)
GB/T5080.2 設(shè)備可靠性試驗試驗周期設(shè)計導(dǎo)則(GB/T5080.21986 , neq IEC 60605-2: 1978)
GB/T5080.4設(shè)備可靠性試驗可靠性測定試驗的點估計和區(qū)間估計方法(指數(shù)分布) (GB/T
5080.4 1985, neq IEC 60605-4: 1978)
GB/T5080.5 設(shè)備可靠性試驗成功率的驗證試驗方案(GB/T5080.51985 , idt IEC 60605-5: 1982)
GB/T5080.6 設(shè)備可靠性試驗恒定失效率假設(shè)的有效性檢驗(GB/T5080.61996 , idt IEC
60605-6: 1989)
GB/T5080.7 設(shè)備可靠性試驗恒定失效率假設(shè)下的失效率與平均無故障時間的驗證試驗方案
(GB/T5080.71986 , idt IEC 60605-7: 1978)
GB/T14048.1 2006 低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備總則(IEC60947-1: 2001 , MOD)
GB 14048.4 2低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備機(jī)電式接觸器和電動機(jī)起動器(IEC 60947-4-1:
2000, IDT)
GB 14創(chuàng)8.-1998 低壓開關(guān)設(shè)備和控制設(shè)備接觸器和電動機(jī)起動器第部分:交流半導(dǎo)體電
動機(jī)控制器和起動器(idtIEC60947-4-2: 1995)
術(shù)語和定義、符號
3.1 術(shù)語和定義
GB/T2900.18 、GB/T3187 GB/T5080.1 、GB/T5080.2 GB/T5080.4、GB/T5080.5 、GB/T5080.6 、GB/T5080GB/T14048.1 GB 14創(chuàng)8.4GB 14048.6 中確立的以及下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
3.1.1
成功率success ratio
產(chǎn)品在規(guī)定的條件下完成規(guī)定功能的概率或在規(guī)定條件下試驗成功的概率。
3.1.2
定時或定數(shù)載尾試驗方案time or failure cUI'tailed ttplan
在試驗期間,對試品進(jìn)行連續(xù)的或短間陸的監(jiān)測,若累積相關(guān)試驗時間達(dá)到了預(yù)定的試驗截尾時間,而相關(guān)失效數(shù)未達(dá)到預(yù)定的截尾失效數(shù),則判為接收:若累積相關(guān)試驗時間未達(dá)到預(yù)定的試驗截尾時間,而相關(guān)失效數(shù)達(dá)到了預(yù)定的截尾失效數(shù),則判為拒收。
3.1.3
相關(guān)失效(關(guān)聯(lián)失效) relevant failure
在解釋試驗結(jié)果或計算可靠性特征量的數(shù)值時必須計人的失效。
3.1 .4
相關(guān)試驗時間relevant test time
與試品相關(guān)失效數(shù)有關(guān)的用來驗證可靠性要求或用來計算可靠性特征量的試驗時間。
3.1.5
使用方鳳險consumer's risk
當(dāng)產(chǎn)品的真實成功率等于不可接收的成功率Rl 時,產(chǎn)品被接收的概率。
3.1.6
觸頭回路電壓降contact-clrcuit voltage drop
從觸頭組件兩引出端測得的一對閉合觸頭間的電壓降值。
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